suche nach "Matched Filter" und "Korrelation" denn das ist genau das was du brauchst. Es hängt nun von deinen Signalströmen ab.
Eines der Signale musst du in einer "Zeitschleife" zwischenbuffern. Dieser Buffer, ein FIFO, ist dein Vergleichsmuster. Dessen Speichertiefe minus maximale detektierbare Musterlänge bestimmt den maximal detektierbaren Musterabstand. Der Matched Filter ist ein digitaler Filter und wird oft in DSPs eingesetzt. Normalerweise wird man den mit fixiertem Muster betreiben. Er bekommt den Signalstrom sequentiell und erzeugt einen Amplitudenwert der anzeigt wie stark das Signal mit dem Muster übereinstimmt. Wird dessen Muster nun aus einem FIFO hergezogen, der FIFO selber mit einem Signalstrom gefüllt, dann hast du einen Sliding Window Korrelator.
Ein Problem kann uU. die Frage werden in welchem Signalstrom kam das übereinstimmende Muster zuerst vor, also die Bestimmung der Phasenlage des Signales in Relation zum Referenzsignal.
In jedem Falle wird es rechenointensiv, denn mit jedem Sample wird ein Vergleich von Musterlänge Samples nötig. Das kann man mit einer FFT, Fourier Transformation um einen gewissen Faktor beschleunigen.
Über Wikipedia kannst du dich durch die ganze Materie hangeln.
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Phasenkorrelation wäre noch so ein Stichwort, kam nicht drauf
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Gruß Hagen