FPC 3.0.0
Liebe Delphi-Community,
mich wuerden Euere Inputs zu folgende Aufgabenstellung aus dem Bereich der Halbleiderproduktion interessieren: ich moechte die Testergebnisse elektrischer Tests auf
Chips auf einem Wafer darstellen; ein Beispiel-Bild habe ich angehaengt.
Aktuell erstelle fuer jeden Chip, der getestet wurde, eine eigene, leicht adaptierte
VCL-Komponente (bisher habe ich TPaintBox und TStaticTest als Vorlagen verwendet) und gebe diese dann als Schleife ueber alle Chips/Wafer aus. Die Chips werden farblich codiert, um das Testergebnis zu visualisieren. Gruen(clGreen)=gut, alle anderen Farben= schlecht.
Problematisch an dieser Vorgehensweise mit vielen
VCL's ist, dass sie nicht wirklich performant ist, will sagen, wenn das mal mehr als 2000 Chips werden, warte ich schon einige Sekunden auf den Aufbau der 2000 Paintboxen bzw. StaticTexte.
Dass das Ressourcenbedarf mit der Zahl der
VCL-Komponenten exponentiell anwaechst, ist ja schon oefters in dem Forum angesprochen worden. Warum ich diese dann ueberhauot verwende ? Nun, das liegt daran, dass ich gerne die MouseEnter/MouseLeave Ereignisse verwende moechte, um ein wenig Text-Informationen ueber den einzelnen Chip auszugeben, der gerade unter dem Mauszeiger liegt.
Meine Frage: gibt es vielleicht performantere Komponenten, die ich in groessere Anzahl verwenden koennte und die eine MouseEnter/Leave Methode haben ?